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　　手持式X熒光光譜儀分析技術(shù)(XRF)是一種表面檢測技術(shù)。對于諸如鋁制類的輕合金， 手持式光譜儀合金分析儀只能對試樣表面深度幾百微米進行測量。對于鑄鐵或銅等主要金屬，手持式X熒光光譜儀分析技術(shù)(XRF)對試樣的測量深度小于一百微米。而對于金或鉛等致密材料，其僅能測量表面的數(shù)十微米。這就意味著材料表面準確體現(xiàn)總體成分這一點非常關(guān)鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會對分析造成極大影響。與此類似，噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用XRF分析儀進行檢測之前務(wù)必對試樣進行清潔。

　　手持式光譜儀合金分析儀采用低功率X射線管。由于發(fā)射和接收的X射線功率較低，將分析儀貼近試樣就非常重要。理想情況下，試樣應(yīng)當(dāng)與儀器窗口面直接接觸。如果試樣具有復(fù)雜的幾何形狀那么就會存在很大難度，但 手持式光譜儀合金分析儀的狹窄輪廓外形能夠讓儀器充分貼近諸如以90度角的卷邊焊縫材料。

　　試樣表面溫度

　　手持式光譜儀合金分析儀的X射線物理特性基本上不會受試樣溫度變化的影響。此外，其分析儀性能可靠，不會受到環(huán)境條件變化的影響。該儀器在-10°C和50°C(14–122°F)2之間的工作溫度范圍使用時不會發(fā)生溫度漂移或性能降低。

　　手持式光譜儀合金分析儀可測量最高溫度可達100°C (212°F)的試樣。高于上述溫度時，儀器檢測窗上的聚丙烯薄膜可能會受到損壞。創(chuàng)想儀器(GLMY) 手持式光譜儀合金分析儀可為高溫檢測提供替用的面板。該面板包括能夠測量溫度高達315°C (600°F)試樣的Kapton檢測窗。

　　材料成分

　　手持式光譜儀合金分析儀能夠定量分析元素周期表上從鎂到鈾元素超過90%的元素，覆蓋了常用商品合金所含有的絕大多數(shù)元素。 手持式光譜儀合金分析儀能夠?qū)︿X合金、不銹鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料，黃銅、青銅以及其他銅合金，金屬焊料、鈦合金、工具鋼、鎳基或鈷基等“超級合金”進行材料牌號匹配和元素定量分析。

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