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　　在選購(gòu)手持式XRF分析儀時(shí)，決定采用硅漂移探測(cè)器(SDD)還是PIN探測(cè)器是您需要做出的關(guān)鍵決策之一。例如，我們性?xún)r(jià)比高的Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀配備了不同的探測(cè)器：Vanta Element分析儀搭載了PIN探測(cè)器，而Vanta Element-S分析儀則配備了SDD探測(cè)器。

　　一、SDD與PIN：它們有何不同?

　　硅漂移探測(cè)器(SDD)是一種較先進(jìn)的技術(shù)，其每秒的X射線(xiàn)計(jì)數(shù)率大約是PIN探測(cè)器的10倍。SDD探測(cè)器的分辨率也比PIN探測(cè)器高出約40 eV。然而，SDD性能的提升也意味著成本的增加。在選擇哪種探測(cè)器更適合您的需求時(shí)，您需要考慮計(jì)劃如何使用XRF分析儀。

　　二、檢測(cè)輕元素需求

　　輕元素的定量分析只能由裝配有SDD探測(cè)器的分析儀實(shí)現(xiàn)。許多人因此誤以為不能使用裝配PIN探測(cè)器的分析儀來(lái)分揀鋁合金。然而，配備PIN探測(cè)器的分析儀能夠基于較重元素(如：銅、鉻或鐵)的含量來(lái)分揀多種鋁合金牌號(hào)。當(dāng)然，要進(jìn)行更精細(xì)的區(qū)分，例如區(qū)分鎂含量不同的6061鋁和6063鋁，則需要使用裝配有SDD探測(cè)器的分析儀。

　　三、檢測(cè)限(LOD)需求

　　SDD探測(cè)器的檢測(cè)限通常比PIN探測(cè)器低約3倍。SDD探測(cè)器還具有更高的計(jì)數(shù)率，因此提供更高的精確度和靈敏度。

　　四、如何選購(gòu)合適的分析儀

　　我們希望上述問(wèn)題已經(jīng)幫助您確定了所需探測(cè)器的類(lèi)型，這將使您更接近于選購(gòu)一款合適的分析儀。如果您需要SDD探測(cè)器，那么您可能需要深入了解我們的Vanta Element-S手持式XRF分析儀，這款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的分析儀能夠檢測(cè)輕元素，并對(duì)合金進(jìn)行精確辨別。

　　這款分析儀能夠在數(shù)秒內(nèi)快速、精確地識(shí)別鎂(Mg)、鋁(Al)和硅(Si)元素。分析儀的SDD探測(cè)器還能區(qū)分相似的合金牌號(hào)，如：303和304不銹鋼，6061和1100鋁，以及6063和1100鋁。這款分析儀能夠有效測(cè)量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量，是完成廢料回收、基礎(chǔ)PMI(材料成分識(shí)別)、金屬制造和貴金屬鑒定等任務(wù)的理想選擇。

　　如果您需要PIN探測(cè)器，那么請(qǐng)您仔細(xì)研究我們的Vanta Element初級(jí)分析儀，這款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的分析儀同樣能夠?qū)辖疬M(jìn)行辨別。

　　無(wú)論您選擇哪款分析儀，都可以放心使用，因?yàn)閮煽罘治鰞x都具備使Vanta系列分析儀聞名遐邇的基本特性：快速檢測(cè)、可靠結(jié)果、堅(jiān)固耐用、良好的連通性，以及操作便捷性堪比智能手機(jī)。

　　兩款分析儀都具備以下優(yōu)勢(shì)特性：

　　符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，具備防塵、防潮功能。

　　通過(guò)了MIL-STD-810G墜落測(cè)試，可防止分析儀在墜落時(shí)受損，從而減少昂貴的維修需求。

　　Axon技術(shù)有助于迅速且可靠地完成檢測(cè)。

　　借助奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)云連接和現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)共享。

　　贏(yíng)洲科技作為儀景通一級(jí)品牌代理商，擁有完整的售前售后服務(wù)體系，如有儀器購(gòu)買(mǎi)或維修需求，可聯(lián)系：18202125770，贏(yíng)洲科技為您提供原裝零部件替換、維修。

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